设备概述：

   试验之星的DTC350系列全数字闭环测控系统专用于材料试验机的闭环控制和数据采集。

   DTC350_ETM适用于静态电子万能材料试验机。可驱动交流伺服电机，有力、位移、变形三路基本测量和控制通道，可再扩展6路通道，连接引伸计、力传感器等应变测量单元。所有通道的分辨率均为：±350，000码。配合TestStar_ETM测控软件，不但可实现材料的常规拉伸、压缩、弯曲、撕裂和剥离等试验，还可实现复杂的循环、蠕变和松弛等试验。

主要功能：

• 负荷、位移全程不分档，相对于分档避免了量程转换时的冲突，保证测量范围内的各点精度均相同。

• 采样频率120Hz，最高可达1000Hz，采样频率高使得计算的重复性好，数据更加精确。

• 分辩率高达±350000码，保证高测量精度。

• 保载精度高，可实现复杂的保载试验，保载精度达到0.5%。 

• 基于DSP，全数字化控制。

• 基于神经元自适应PID算法的全数字、三闭环（力、变形、位移）控制系统，控制环之间自动切换，且平稳过渡。

• 16路高精准24Bit数据采集系统。

• USB2.0通讯，通讯速率高达480 Mb/s。

• 信号调整部分，采用精密恒压激励源。

• 从传感器到A/D转换接口全程屏蔽。

• A/D转换IC选用最新24BitA/D转换器件，内部集成可编程增益调节器，可编程参考源，16 BitD/A转换器。转换速度可在线编程。

• 多重保护：具有过载、过流、过压、欠压，过速、限位等多种安全保护方式。

• 采用4层PCB布线，提高了产品的抗干扰能力，有效地抑制了电路板的电磁辐射，使电路板的电磁兼容性（EMC）更好，工作更稳定可靠。

• 采用超大规模可编程数字集成电路，分立元器件少，电路布局紧凑，体积小，功耗低、发热少，工作特性更稳定可靠，故障率低，可维护性好。